コイルランプ短絡試験機

MICROTEST インパルスワインディングテスターは、高インダクタンスと低インダクタンスの両方の磁気部品を試験するために設計されています。
巻線部品の信頼性の高い絶縁試験に使用され、波形のサンプリングと比較に非破壊パルス電圧を利用します。この方法は、モーター、トランス、インダクターなどの機器の絶縁問題を効果的に検出すます。

7750シリーズは、より高速なカラー表示画面を備え、1200V/5200V/10000Vのパルス電圧出力を提供します。200MHz/9ビットの高速サンプリング技術により、総面積比較、差分面積比較、コロナ比較、ラプラシアン比較、FLUT比較、COMP比較など、さまざまな比較モードを提供します。検査速度は最高で毎秒10回に達するため、自動化された生産ラインに最適である。

7703/7700シリーズは、5000V/10000Vのパルス電圧出力を提供します。
L/C共振によって発生する減衰減衰波形を解析することで、コイル間やエナメル線層間の短絡など、磁気部品の欠陥を検出します。
コイルランプ短絡試験機
層間短絡試験機 7750シリーズ|7750-10S/5S/5H/5E/1S
層間短絡試験機 7750シリーズ
7750-10S/5S/5H/5E/1S
  • 電圧補償機能を搭載
  • 最小インダクタンス値≧0.1μH
  • 高速パルスサンプリング 200MHz/9bits
  • 定常速度試験:7回/秒
  • 4つの波形の比較モードを提供
  • クラッシュ電圧試験
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
  • L/C共振波形でのコイルの短絡原因を解析
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層間短絡試験機|7703 (5000V)
層間短絡試験機
7703 (5000V)
  • シングルチャンネルテストを提供
  • 最小のインダクタンスの試験(0.5uH)
  • 高圧校正機能をサポート
  • 5つの波形の比較モードを提供
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
  • L/C共振波形でのコイルの短絡原因を解析
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層間短絡試験機|7713 (10000V)
層間短絡試験機
7713 (10000V)
  • シングルチャンネルテストを提供
  • 最小のインダクタンスの試験(0.5uH)
  • 高圧校正機能をサポート
  • 5つの波形の比較モードを提供
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
  • L/C共振波形でのコイルの短絡原因を解析
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層間短絡試験機|7700 (5000V)
層間短絡試験機
7700 (5000V)
  • シングルチャンネルテスト
  • 高圧校正機能をサポート
  • 5つの波形の比較モードを提供
  • Remote、Printerのインターフェースをサポート
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
  • プッシュロック機能があり
  • L/C共振波形でのコイルの短絡原因を解析
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層間短絡試験機|7710 (10000V)
層間短絡試験機
7710 (10000V)
  • シングルチャンネルテストを提供
  • Remote、Printerのインターフェースをサポート
  • 最小のインダクタンスの試験(100uH)
  • 高圧校正機能をサポート
  • 5つの波形の比較モードを提供
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
  • プッシュロック機能があり
  • L/C共振波形でのコイルの短絡原因を解析
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層間短絡試験機|7720 (5000V/8 Channel)
層間短絡試験機
7720 (5000V/8 Channel)
  • 8チャンネルテストを提供
  • 最小のインダクタンスの試験(50uH)
  • Remote、Printerのインターフェースをサポート
  • 高圧校正機能をサポート
  • 5つの波形の比較モードを提供
  • 非破壊のインパルス高電圧検査技術を採用
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