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MICROTEST 6632阻抗分析儀提供10Hz-50MHz寬頻率範圍量測元件/材料阻抗特性，量測參數包含|Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串並聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數)、Q(品質因數)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數)，支援Meter模式與掃圖分析模式，因此量測結果以數字或圖形方式顯示，支援LAN/USB Host/USB Device/GPIB/RS-232通訊接口，可搭載自動化設備或人機介面(PLC)。
選型
| 6632系列 | |||||||
| 型號 | 6632-1 | 6632-3 | 6632-5 | 6632-10 | 6632-20 | 6632-30 | 6632-50 |
| 測試頻率 |
10Hz- 1MHz |
10Hz- 3MHz |
10Hz- 5MHz |
10Hz- 10MHz |
10Hz- 20MHz |
10Hz- 30MHz |
10Hz- 50MHz |
量測規格
| 型號 | 6632 | |
| 頻率範圍 | 10Hz-50MHz | |
| 測量頻率點數 | 可程式 | |
| 頻率輸出精準度 | ±0.01% | |
| 測量頻率解析度 | 100mHz, 6位數頻率輸入 | |
| 基本測量準確度 | ±0.08% (典型值±0.05% ) | |
| AC測試信號位準 | 測試信號電壓範圍 |
10mV - 2Vrms(100Ω) 10mV - 1Vrms(25Ω) |
| 電壓最小分辨率 | 1mV | |
| 準確度 |
ALC ON：6％ * 設定電壓 ±2mV ALC OFF：10％ * 設定電壓 ±2mV |
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| 測試信號電流範圍 | 200µA - 20mArms | |
| 電流最小分辨率 | 10µA | |
| 準確度 |
ALC ON：6％ * 設定電流 ± 20µA ALC OFF：10％ * 設定電流 ± 20µA |
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| DC測試信號位準 | 1V (固定) | |
| 輸出阻抗 | 25Ω/100Ω標稱值，可切換 | |
| DC偏壓測試 |
內置±12V (100Hz-50MHz) |
可選購外部DC偏壓盒 (±12V/±40V/±600V/±2000V) |
| DC偏流測試 |
外置DC偏流源 (20A/60A/120A/320A) |
可選購外部DC偏流盒 (100mA) |
| 測試模式 | Meter模式/多步列表模式/掃圖分析模式/等效電路建模分析 | |
| 測試參數 |
|Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串並聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數)、Q(品質因數)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數) |
|
| 量測時間 | < 3mS (最快) | |
參數與顯示範圍
| 項目 | 範圍 |
| |Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| |Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
| G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
| θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
| θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
| Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
| Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
| D | 0.00000 to 9999.99 |
| Q | 0.00 to 9999.99 |
| Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
| Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
| εr' εr'' | 0 to 100000 |
| μr' μr'' | 0 to 100000 |
一般規格
| 等效電路 | 串聯、並聯 |
| 校正 | 開路、短路、負載 |
| 線長補償 | 0 / 0.5 / 1 /2 (m) |
| 分類功能(BIN) | ABS、ΔABS、Δ%、OFF |
| 比較器 | 9級最大 |
| 多步列表測試功能 | 50組 (每組提供15個測試步驟) |
| 內建存儲 | 100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定 |
| USB Host存儲 | LCR Meter測試設定文件、多步測試設定文件、BMP圖像、掃圖畫面及資料 |
| 觸發測試方式 | 自動、手動、RS-232、GPIB、Handler |
| 電源 | 電壓：90-264Vac |
| 頻率：47-63Hz | |
| 消耗功率 | 30VA |
| 操作環境 | 溫度：10℃-40℃ |
| 濕度：20-90%RH | |
| 外觀尺寸 | 336x147x340 mm (W*H*D) |
| 重量 | 3.95 Kg |
| 介面 | RS-232、Handler、LAN、USB Host、USB Device |
| 液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯示(800*480) |
我們可以利用6632S系列
測量LF天線的諧振頻率與影響效率的寄生參數
射頻識別(RFID)是一種無線通訊技術，可將RFID系統劃分為低頻(LF)、高頻(HF)、超高頻(UHF)與微波。
其中以低頻(LF)與高頻(HF)此兩種頻段的RFID電子標籤，大多採用電磁耦合原理(電磁感應)，低頻射頻標籤(LF)其工作頻率範圍在30kHz~300kHz，典型的工作頻點為125kHz與133kHz，這種低頻標籤一般為無源標籤，其工作能量透過電感耦合方式從閱讀器之耦合線圈的輻射近場中獲得，低頻標籤與閱讀器之間的通信距離一般為一米內，這幾年由於汽車走向智慧化與集成化，LF天線技術應用於汽車被動門禁系統(Passive Entry, PE)，透過這項系統駕駛員可輕鬆進入車內，無需將車鑰匙插入門鎖或是按下鑰匙上的解鎖扭來開啟車門。
利用6632S等效電路模型分析功能，選擇模型G
模型是四元件組和的等效電路分析，透過掃描阻抗曲線(Z/θ)，檢視諧振頻率點在131kHz
在G模型G下，可以透過修改R1/L1/C1進行模擬分析偏移後的諧振頻率點，當工程師在進行天線調試時，可利用這一項分析功能，檢視並聯等效電容、並聯等效電阻，確保天線標籤與讀卡器之間獲得更好的讀寫距離，6632等效電路分析模型協助工程師修改產品特性、或改變材料與制程等工作，快速得到產品功能驗證的分析工具。
選型6632S系列，支援等效電路模型分析 Equivalent Circuit Analysis
7 種不同的模型，結合不同類型的參數 ( 電阻、電感、電容 )，目的是用三個或四個元素對阻抗與頻率特性進行建模。模擬自己的等效電路參數的阻抗軌跡值，然後將其與實際測量軌跡進行比較和參考自諧振頻率 (SRF)。
針對R、L、C元件，6632量測範圍
6632內置介電常數/導磁係數測量功能，滿足不同的材料應用分析
提供專用的材料測試治具，為量測帶來更大的便利與效率
介電常數測量可選型FX-0000C7(固態材料/薄膜材料) / FX-000C20(液態材料)
導磁係數測量可選型FX-0000C8(磁環/軟磁材料)
新能源材料/電池材料進行介電強度與損耗測試，可選型FX-000C20液態介電測試治具
6632測試頻率範圍10Hz-50MHz，內置εr' /εr''參數測量，省去人工試算
可利用6632進行磁性材料的導磁特性掃圖分析
觀測磁性材料在不同頻率變化下導磁特性的變化
6632內置±12V直流偏壓測試功能
另可選型外置±2000V/±40V直流偏壓盒進行大功率元件的C-V特性測試
可選購6632 PC Link軟體進行C-V曲線掃圖分析
影響NFC/無線充電的傳輸效能的關鍵參數為SRF諧振頻率
應用於信用卡或手機無線充電的感應線圈大多採用柔性電路板FPC製成
這種線圈繞組成的FPC在蝕刻不良狀況下，可能造成繞組的線路變窄/繞組間距之間變寬，使交流電阻變大、寄生電容變大，造成整體的電感值下降，最終影響電感的SRF諧振頻率，SRF一旦偏移最終可能使信用卡感應不良、或是無線充電速度變慢。
利用6632進行SRF諧振頻率掃圖分析，並且利用等效電路模型分析寄生電容對整體的阻抗的影響
6632內置多步列表測試功能，提供50組多步編程(每組可設定15個測試步驟)
6632內置Meter量測模式，一次可顯示4組參數，AC/DC可同時測量
標準配件
| 電源線 | |
| 高頻DIP元件測試治具 (FX-000C19) |  |
MLCC測試選購配件
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MLCC (Class 2) AC電壓準位補償測試功能
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| 外置AC電壓準位補償 (FX-LR0001) |  |
| 高頻SMD元件測試治具 (FX-000C12) |  |
選購配件
| PC Link軟體 | |
| DIP元件測試治具 (F423503) |  |
| 延伸DIP元件測試治具 (F423504) |  |
| SMD元件測試治具 (F423905) |  |
| 凱爾文測試夾 (F423906A) |  |
| 高頻下壓式SMD測試治具 (FX-000C10) |  |
| 高頻鑷子式測試夾(FX-000C11) |  |
| 高頻SMD元件測試治具 (FX-000C12) | |
| 介電常數測試治具(FX-0000C7) |  |
| 液態介電常數測試治具(FX-000C20) |  |
| 導磁係數測試治具(FX-0000C8) |  |
| 材料測試治具(FX-0000C9) |  |
| 外部DC偏壓盒(F420001) |  |
| 外部DC偏壓盒(F420003) |  |
| 外部DC偏壓盒(F420005) | |
| 外部DC偏壓盒(F420006) |  |
| BNC測試延長線 (F663001 A/B/C) |  |
