從元件到AI伺服器｜高密度電源設計實踐研討會精彩回顧

2025年12月23日，我司在台北 IEAT 會議中心舉辦的「從元件到AI伺服器，高密度電源設計實踐研討會」圓滿落幕，本次研討會聚焦 AI伺服器電源設計與高密度電源效能提升等前沿課題，吸引來自電源設計與量測工程領域的業界先進與學術單位熱烈參與，現場氣氛熱絡、技術交流密集。

在AI計算與高速運算的強勁市場需求下，高密度電源設計已成為資料中心與伺服器電源架構的核心工程挑戰，本次研討會從電源架構趨勢、前端濾波設計、參數建模校正、模擬到驗證、以及元件量測等技術層面，逐步解析高效能電源設計的重點與實務策略。多位業界專家分享了電源模組化趨勢、前端濾波中瞬態與諧波的量測分析、AI輔助參數校正方法、以及高密度系統中功率半導體與被動元件的模擬實作案例，透過 量測與模擬雙引擎驅動 的技術路線，讓與會者對高密度電源設計的測試與設計流程有了全方位理解。

本次研討會由我司研發部副總開場致詞

MICROTEST 研發部副總周恆昱於開幕致詞中指出，隨著 AI 伺服器算力快速升級，伺服器電源供應的 能效與功率密度 已不是單純電源轉換效率測試議題，而是系統整體設計成功與否的關鍵指標，在 AI 系統架構中，電源設計不僅要兼顧 高效率轉換，還需優化 熱管理、EMI 控制 以及 動態負載響應能力，這些挑戰直接影響伺服器的運算效率與資料中心的 TCO，他特別強調：透過精準的量測與基於數據的設計流程，可以有效縮短設計迭代時間、提升功率轉換效率。

內容亮點與技術交流精華

前端濾波設計與量測技術實務

｜MICROTEST 講師透過實例解析高密度電源瞬態回應 與 波反饋 在前端濾波設計中的量測結果與設計優化策略。

AI Simulation與 Test‑to‑Design

｜薪威科技介紹如何將 AI輔助建模 與 SmartUQ 平台 結合實際測試數據，使參數設計從傳統手動調整轉向資料驅動校正。

元件模擬與量測實務

｜皮托科技與MICROTEST分別透過兩堂課，與各位先進一起探討扁平電感、MOSFET、電容與電感 等元件在高密度電源系統中的特性量測技巧，以及如何透過 COMSOL 多物理場模擬提升電源元件效能。

電感選型關鍵設計

｜伍仕電子專家深度解析：電感選型需考量電感值/飽和電流/溫升電流三大重要指標參數，電感值的設定必須與電源拓撲與工作頻率匹配，以確保在目標負載範圍內提供足夠的磁通儲能，而飽和電流需比系統最大負載電流（包括瞬態尖峰）有足夠裕度，以避免導致電感飽和失效或效率急劇下滑，此外，溫升電流是熱管理與效率優化必須考量的熱極限指標，透過專家解析，可以看出電感選型並非單純選取規格即可，而是涉及 負載條件、拓撲設計、損耗預估與熱效應管理 等多維度考量。

磁飽和電流與溫升電流的量測技巧 (實務分享)

｜在研討會上，MICROTEST 講師進一步以實際量測案例介紹了磁飽和電流（Isat）與溫升電流（Irms）的量測實務技巧，在磁飽和電流的量測中，講師指出需利用具備640A大電流輸出能力的DC偏流源搭載掃圖分析的阻抗分析儀，在不同的DC偏流條件下來驗證電感值變化，依據電感規格書透過Isat曲線提取電感值下降10%-30%對應的飽和電流值，以確保設計峰值電流不落入非線性區域，此量測方法能準確反映在高電流工作下磁芯性能的極限，避免電感於實際運作中提前進入飽和而影響能量儲存與輸出品質。在溫升電流的量測上，講師指出 Irms 不僅是額定電流參考，更需以電感本體的直流電阻與銅線溫度係數之間的關係進行評估，電感繞組的 DCR 是線圈銅線損耗的主要來源，當電流通過時DCR 損耗會轉換成熱能，銅線電阻會隨溫度上升而增加，因此 DCR 與溫度的變化可用來反推溫度升高與有效電流之間的關係。透過DCR 變化中間接量測熱極限的方式，可避免單純外部熱傳感器測量的盲點，能更貼近電感在 DC-DC 轉換環境中繞組內部的真實熱行為。

此次研討會深化了產業界對 AI伺服器電源效能與高密度電源設計挑戰的技術共識

市場上的 AI 應用對電源效率的要求正快速提高，伺服器電源從直流分佈、高壓 DC/DC 到模組化架構的設計需求，都要求 量測精確性與設計流程工具 能與時俱進，形成從元件到系統的效率優化鏈，此外，這次研討會上還透過實機演示與量測技巧分享，提升了高密度電源系統設計的實務能力，這也凸顯了量測工具與模擬平台在未來電源設計中扮演不可或缺的角色。