6630精密LCRテスターã¯ã€ACä¿¡å·ã®LCRテストã«ä½¿ç”¨ã§ãã‚‹7ã¤ã®å‘¨æ³¢æ•°ã‚ªãƒ—ション(10 Hz〜1/3/5/10/20/30/50 MHz)をæä¾›ã—ã¾ã™ã€‚テスト周波数ã¨ãƒ†ã‚¹ãƒˆãƒ¬ãƒ™ãƒ«ã¯ã€é€£ç¶šçš„ãªå¤‰åŒ–ã§æ¸¬å®šã§ãã¾ã™ã€‚ 。 ã•ã¾ã–ã¾ãªãƒ†ã‚¹ãƒˆãŠã‚ˆã³ãƒ¢ãƒ¼ãƒ‰æ¡ä»¶ã§é«˜é€Ÿé€£ç¶šãƒ†ã‚¹ãƒˆã‚’実行ã§ãã¾ã™ã€‚ 出力インピーダンス25Ω/ 100Ω切り替ãˆå¯èƒ½ã€ALC補償ã€ãƒžãƒ«ãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—テストã€BIN分類ãŠã‚ˆã³ã‚³ãƒ³ãƒ‘レーター機能ã«ã‚ˆã‚Šã€è‡ªå‹•コンãƒãƒ¼ãƒãƒ³ãƒˆç”Ÿç”£ä¸ã«è‰¯å“ã¨ä¸è‰¯å“を分類ã—ã¾ã™ã€‚ ã¾ãŸã€RS-232ã€GPIBã€ãƒãƒ³ãƒ‰ãƒ©ãƒ¼ã€LANã€USBホスト/デãƒã‚¤ã‚¹ã‚¤ãƒ³ã‚¿ãƒ¼ãƒ•ェイスをサãƒãƒ¼ãƒˆã—ã¾ã™ã€‚
6630 LCRテスターã«ã¯ã€ã•ã¾ã–ã¾ãªãƒ†ã‚¹ãƒˆãƒ•ィクスãƒãƒ£ã¨ã‚¢ã‚¯ã‚»ã‚µãƒªã‚’装備ã§ãã¾ã™ã€‚ 誘電率テストフィクスãƒãƒ£FX-0000C7ã€è£…ç½®ã®çµ„ã¿è¾¼ã¿å¼ãŒææ–™ã®èª˜é›»çއεr 'ã€εr "を直接計算ã—ã¾ã™ã€‚PCBåˆã¯ã‚»ãƒ©ãƒŸãƒƒã‚¯ãƒœãƒ¼ãƒ‰ãªã©ã‚’評価ã§ãã¾ã™ã€‚液体誘電体フィクスãƒãƒ£FX-000C20を使用ã—ã¦é›»æ°—化å¦ã‚’評価ã—ã¾ã™ ææ–™ç‰¹æ€§åˆ†æžï¼šé€ç£çŽ‡ãƒ†ã‚¹ãƒˆãƒ•ã‚£ã‚¯ã‚¹ãƒãƒ£FX-0000C8を使用ã—ã¦ã€æ©Ÿå™¨ã®çµ„ã¿è¾¼ã¿å¼ã¯ã€ã•ã¾ã–ã¾ãªãƒªãƒ³ã‚°ã‚³ã‚¢åˆã¯ãƒ•ェライトコアåŠã³é›»ç£ã‚·ãƒ¼ãƒ«ãƒ‰ã‚³ãƒ¼ãƒ†ã‚£ãƒ³ã‚°ææ–™ã®é€ç£çŽ‡ä¿‚æ•°μr 'åŠã³μr "を直接計算ã—ã¾ã™ã€‚
- ä¿¡å·æºå‘¨æ³¢æ•°ç¯„囲:10 Hz 〜1/3/5/10/20/30/50 MHz
- 基本抵抗確度±0.05%
- 自動電圧安定化機能   
- 出力インピーダンス25Ω/100Ω åˆ‡æ›å¯èƒ½
- メータモードã€ãƒžãƒ«ãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—ã€è¤‡æ•°ã®æ²»å…·ã‚’æä¾›å¯èƒ½ã§ã™ã€‚
- 測定速度 < 3mS(FAST)
- オープン/ショート/è² è·è£œæ£æ©Ÿèƒ½
- メータモードã§ã¯ã€æœ€å¤§4ã¤ã®ã‚³ãƒ³ãƒãƒ¼ãƒãƒ³ãƒˆãƒ‘ãƒ©ãƒ¡ãƒ¼ã‚¿ã‚’é¸æŠžå¯èƒ½ã€‚インダクタンス値ã¨DCRå€¤ã‚’åŒæ™‚ã«æ¸¬å®šã—ã¦è¡¨ç¤ºå¯èƒ½
- 自動部å“分類:コンパレータåŠã³Handler BINåˆ†æžæ©Ÿèƒ½
- RS-232ã€GPIBã€Handlerã€LANã€USB Host/Deviceをサãƒãƒ¼ãƒˆã§ãã¾ã™ã€‚
- 開発ã€è©¦é¨“室ãªã©ã®ãƒ†ã‚¹ãƒˆé ˜åŸŸã«é©ã—ã¦ã„ã¾ã™ã€‚
- コンピュータ接続ソフトウェアを購入ã—ã¦ã€æ¸¬å®šãƒ‡ãƒ¼ã‚¿ã‚’åŽé›†ãŠã‚ˆã³åˆ†æžã§ãã¾ã™
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å››ã¤ã®ãƒ‘ラメーター 800*400 7 インãƒã®ã‚«ãƒ©ãƒ¼æ¶²æ™¶ç”»é¢ã€åŒæ™‚ã€å››ã¤ã®ãƒ‘ラメーターをè¨å®šå¯èƒ½ã§ã™ã€‚ |
æ ¡æ£ ãƒ†ã‚¹ã‚¿ãƒ¼ã‚’æ¸¬å®šã™ã‚‹å‰ã«ã€ã‚ªãƒ¼ãƒ—ンã€çŸçµ¡ã€é«˜å‘¨æ³¢è² è·è£œæ£ã€ãŠã‚ˆã³å›ºå®šå‘¨æ³¢æ•°è² è·è£œæ£ãŒå¿…è¦ã§ã™ã€‚ |
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DCR インダクタンスã®è©•価 誘導部å“ã®ç‰¹æ€§æ¸¬å®šã‚„DCã®æŠµæŠ—ç‰¹æ€§æ¸¬å®šã«ä½¿ç”¨ã•れã¾ã™ã€‚インダクタンスã®è©•価ã«ä¸€èˆ¬çš„ã«ä½¿ç”¨ã•れるパラメータ値ã¯ã€Ls / Lp / Q / SRF / DCRã§ã™ã€‚インダクタã®ã‚¿ãƒ¼ãƒ³ã¨å·»ç·šã®æè³ªã¯ã€DCR値ã«å½±éŸ¿ã‚’与ãˆã¾ã™ã€‚ |
マルãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—試験 マルãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—リストテストã¯ã€æœ€å¤§15セット(50プãƒã‚°ãƒ©ãƒ ã‚’ä¿å˜ã§ãã¾ã™ï¼‰ã¾ã§ã®æ©Ÿèƒ½ã«è‡ªå‹•çš„ã«ãƒ—ãƒã‚°ãƒ©ãƒ ã•れã¾ã™ã€‚
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出力インピーダンス 25Ω/100Ω åŠã³ALC 出力インピーダンス25Ω/100Ωを切り替ãˆå¯èƒ½ã§ã™ã€‚自動レベル制御(ALC)ã«ã‚ˆã‚Šã‚³ãƒ³ãƒãƒ¼ãƒãƒ³ãƒˆãŒæ¸¬å®šã§ãã¾ã™ã€‚例ãˆã°ã€é™é›»å®¹é‡å€¤ãŒ1uFã‚’è¶…ãˆã‚‹å¤šå±¤ã‚»ãƒ©ãƒŸãƒƒã‚¯ã‚³ãƒ³ãƒ‡ãƒ³ã‚µï¼ˆMLCC)ã§ã¯ã€é™é›»å®¹é‡å€¤ãŒæ¸¬å®šä¸ã®å®Ÿéš›ã®é™é›»å®¹é‡ã‚ˆã‚Šã‚‚低ã„å ´åˆãŒã‚ã‚‹ãŸã‚ã€ALC測定を開ãå¿…è¦ãŒã‚りã¾ã™ã€‚一般的ã«ã€ã‚³ãƒ³ãƒ‡ãƒ³ã‚µã®ãƒ‘ラメータ値ã¯Cs / Cp / D / Q / ESR / DCãƒã‚¤ã‚¢ã‚¹é›»åœ§ã§ã™ã€‚ |
èª˜é›»çŽ‡ã®æ²»å…· 誘電率テストフィクスãƒãƒ£FX-0000C7を使用ã—ã¦ã€ææ–™ã®èª˜é›»çއεr 'ã€εr "を直接計算ã—ã¾ã™ã€‚PCBã®ç©ºã®ãƒœãƒ¼ãƒ‰ã‚„セラミックボードãªã©ã‚’評価ã—ã¾ã™ã€‚
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液体誘電率 é›»æ°—åŒ–å¦ææ–™ã®ç‰¹æ€§ã‚’評価ã™ã‚‹ã«ã¯ã€æ¶²ä½“誘電体フィクスãƒãƒ£FX-000C20を使用ã—ã¾ã™ã€‚
|
é€ç£çއ é€ç£çŽ‡ãƒ†ã‚¹ãƒˆãƒ•ã‚£ã‚¯ã‚¹ãƒãƒ£FX-0000C8を使用ã—ã¦ã€ã•ã¾ã–ã¾ãªãƒªãƒ³ã‚°ã‚³ã‚¢ã¾ãŸã¯ãƒ•ェライトコアã¨é›»ç£ã‚·ãƒ¼ãƒ«ãƒ‰ã‚³ãƒ¼ãƒ†ã‚£ãƒ³ã‚°ææ–™ã®é€ç£çŽ‡ä¿‚æ•°μr 'ã€μr "を直接計算ã—ã¾ã™ã€‚ |
|
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||
自動化生産ライン RS-232ã€LANã€GPIBã€ã¾ãŸã¯ãƒãƒ³ãƒ‰ãƒ©ã‚’自動高速測定(テスト速度<3mSï¼‰ã«æŽ¥ç¶šã—ã¾ã™ã€‚ã“ã‚Œã¯æœ€ã‚‚効率的ãªç”Ÿç”£ã§ã™ã€‚ |
|
測定仕様データ
測定周波数 |
6630-1 | 10Hz ~ 1MHz |
6630-3 | 10Hz ~ 3MHz | |
6630-5 | 10Hz ~ 5MHz | |
6630-10 | 10Hz ~ 10MHz | |
6630-20 | 10Hz ~ 20MHz | |
6630-30 | 10Hz ~ 30MHz | |
6630-50 | 10Hz ~ 50MHz | |
最å°åˆ†è§£èƒ½ | 100mHz, 6æ¡è¡¨ç¤º | |
確度 |
7 ppm±100mHz |
|
基本確度 | ± 0.05% | |
AC 測定
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測定信å·é›»åœ§ç¯„囲 | 10mV - 2Vrms(100Ω), 10mV - 1Vrms(25Ω) |
電圧最å°åˆ†è§£èƒ½ | 1mV | |
確度 | ALC ON:6ï¼… * è¨å®šé›»åœ§±2mV ALC OFF:10ï¼… *è¨å®šé›»åœ§ ±2mV |
|
測定信å·é›»æµç¯„囲 | 200µA - 20mArms | |
é›»æµæœ€å°åˆ†è§£èƒ½ | 10µA | |
確度 | ALC ON:6ï¼… * è¨å®šé›»æµ ± 20µA ALC OFF:10ï¼… * è¨å®šé›»æµ ± 20µA |
|
試験時間(FAST) | < 3ms | |
出力インピーダンス | 25Ωã€100Ω(標準値)切替å¯èƒ½ | |
測定パラメータ |
|Z|(インピーダンス)ã€|Y|(コンダクタンス)ã€θ(ä½ç›¸è§’)ã€X(リアクタンス)ã€R(電気抵抗)ã€G(コンダクタンス)ã€B(サセプタンス)ã€L(インダクタンス)ã€D(æå¤±ä¿‚æ•°)ã€Q(å“質係数)ã€DCR(ç›´æµæŠµæŠ—)ã€C(é™é›»å®¹é‡)ã€Vdc-Idc(ç›´æµé›»åœ§é›»æµ)ã€ESR(ç‰ä¾¡ç›´åˆ—抵抗)〵r(相å°èª˜é›»çއ)ã€εr(相å°é€é›»çއ) | |
測定モード | Meterモードã€ãƒžãƒ«ãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—リスト | |
æ ¡æ£æ©Ÿèƒ½ | オープン/ショート/è² è· | |
ç‰ä¾¡å›žè·¯ | 直列ã€ä¸¦åˆ— | |
マルãƒã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—テスト | マルãƒãƒãƒ£ãƒãƒ«ï¼•ï¼ãƒã‚¤ãƒ³ãƒˆ (ãƒ†ã‚¹ãƒˆã‚¹ãƒ†ãƒƒãƒ—ï¼‘ï¼•é …ç›®ã¾ã§) | |
PC LINK/CPKå ±è¡¨ç’°å¢ƒ | オプションå¯èƒ½ | |
內部メモリー |
LCRメーターè¨å®šï¼‘ï¼ï¼é …目マルãƒãƒãƒ£ãƒãƒ«ï¼•ï¼ãƒã‚¤ãƒ³ãƒˆ |
|
外部usbメモリー | LCRメーターè¨å®šï¼‘ï¼ï¼é …ç›®ã€BMPã€æ¸¬å®šãƒ‡ãƒ¼ã‚¿ | |
インターフェース |
I/O インターフェース | Handler |
直列通信インターフェース | USBã€RS232ã€LANã€USB Host | |
並列通信インターフェース | GPIB | |
液晶パãƒãƒ« | 7.0”TFT, カラー画é¢è§£åƒåº¦800x480 | |
動作環境 | 度:10℃ ~ 40â„ƒã€æ¹¿åº¦ï¼šâ‰¦80%RH | |
é›»æº |
電圧範囲 | 90V ~ 264Vac |
周波数範囲 | 47Hz ~ 63Hz | |
消費電力 | 低消費電力è¨è¨ˆï¼šæœ€å¤§30W(標準値) | |
寸法(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
è³ªé‡ | 軽é‡è¨è¨ˆï¼š3 kg |
パラメータテスト範
|Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
|Y| | 0.00000 uS to 999.999 kS |
G, B | ± 0.00000 uS to 999.999 kS |
θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
D | 0.00000 to 9999.99 |
Q | 0.00 to 9999.99 |
Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
εr | 0 to 100000 |
μr | 0 to 100000 |
応用範囲
åŠ©å‹•éƒ¨å“ | コンデンサーã€ã‚¤ãƒ³ãƒ€ã‚¯ã‚¿ã€æŠµæŠ—ã€ãƒˆãƒ©ãƒ³ã‚¹ã€ã‚»ãƒ©ãƒŸãƒƒã‚¯ç™ºéœ‡ã—ã€æ°´æ™¶ç™ºéœ‡ã— |
åŠå°Žä½“éƒ¨å“ | 電圧ダイオード之 cv 特性分æžã€ãƒ€ã‚¤ã‚ªãƒ¼ãƒ‰ |
èª˜é›»ä½“ææ–™ | プラスãƒãƒƒã‚¯ã€ã‚»ãƒ©ãƒŸãƒƒã‚¯ã€ãƒ—リント基æ¿ã®é›»æº¶çŽ‡ã¨æå¤±æ£æŽ¥ã®è©•価 |
ãã®ä»–ã®ã‚¤ãƒ³ãƒ”ーダンス | 基æ¿ä¸Šã®ã‚¤ãƒ³ãƒ”ーダンス評価 |
For YOUKU Link:
1. 益和 MICROTEST LCR 測試儀6630 高速檢測SMD電感æè¼‰è‡ªå‹•化產線測包機
For YOUKU Link:
1. 益和 MICROTEST LCR 測試儀 6630 æé…自動化測包機
標準付属å“
- é›»æºã‚³ãƒ¼ãƒ‰
- マニュアルã®CD
- FX-000C19
オプション付属å“
- ケルビンテストリードBNC Box付ã(F423906A)
- DIP部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(F423503)
- DIP部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(F423504)
- 高周波数DIP部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(FX-0000C6)
- SMD部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(F423905)
- 高周波数精密型プッシュ型SMD部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(FX-0000C10)
- 高周波数精密型ピンセット型テストリード(FX-000C11)
- 高周波数精密型SMD部å“ã®æ¸¬å®šæ²»å…·(FX-000C12)
- 誘電率測定治具(FX-0000C7)
- é€é›»ç£æ¸¬å®šæ²»å…·(FX-0000C8)
- ææ–™æ¸¬å®šæ²»å…·(FX-0000C9)
- BNC液体誘電テストフィクスãƒãƒ£ï¼ˆFX-000C20)
- BNC延長テストリード(F663001 A/B/C)
- 外部ãƒã‚¤ã‚¢ã‚¹ãƒœãƒƒã‚¯ã‚¹Â±200V(F420001) 外部ãƒã‚¤ã‚¢ã‚¹ãƒœãƒƒã‚¯ã‚¹Â±40V(F420003)
