トランスdynamic testing統合システム
9560 (3-in1+AC Source)

ATP-5600はAC電源試験に対応しています。

• 励磁電流
  

無負荷時や外部故障が除去された後に電圧が回復すると、大きな励磁電流が発生することがあります。これはコアの飽和および残留磁気が原因です。過負荷磁束によりトランス運転中に大きな突入電流が現れ、最大で定格電流の6～8倍に達することがあります。
励磁電流の検出は、特定の電圧条件下で測定する必要があります。過剰な励磁電流は多くの高調波を発生させ、電源の品質に影響を与えたり、電圧の低下や変動を引き起こしたりするためです。

• 無負荷電圧
  無負荷電圧とは、一次側コイルに電圧を印加し、二次側コイルの無負荷電圧を測定することを指します。
  この試験の目的は、巻数比や一次側コイルの励磁電流によって影響を受ける損失を確認することにあります。
• 無負荷損失
  トランスやインダクタの製造者であっても、3-in-1自動トランス試験システムにより、コスト効率よくお客様が求める品質と信頼性を提供することが可能です。

自動バランシングブリッジ＆4線式直流抵抗（DCR）測定

トランスの巻線張力が不適切かどうかを確認します。

巻数比（Turns ratio）はトランスの重要なパラメータです。

理想的には、入力電圧と出力電圧を比較することで巻数比を求めることができます。しかし、多くの要因が影響を及ぼすため、巻数比を測定する方法は複数存在します。

絶縁容量を測定し、巻線間および巻線位置間の絶縁が十分であることを確認します。

• トランスの巻線は分布容量を含み、通常は巻線間に分布しています。
• 容量は等価回路において、一つの巻線から別の巻線への容量で表されます。
• 等価回路中の容量は直列または並列の等価容量として、Cs（直列容量）およびCp（並列容量）で表されます。
• D値は交流抵抗と容量の比率を示し、D値が低いほど良好です。

LCRバランスブリッジによる漏れインダクタンス試験

試験器が一次コイルに接続され、二次コイルが開放状態の場合、測定結果は以下のようになります。
L ＝ 一次コイルのインダクタンス（Lp）＋漏れインダクタンス

→ 試験器内部の漏れインダクタンスはトランスの二次コイルを短絡させる必要があります。
理想的な二次コイルが短絡状態の場合、二次側の電圧は0Vになります。
一次コイルの両端電圧も0Vとなり、一次コイルから測定されるインダクタンスは実際の漏れインダクタンスを示します。

安全規格の耐圧試験は下記の試験項目：

AC耐電圧、DC耐電圧、AC漏れ電流、DC漏れ電流、絶縁試験電圧、絶縁インピーダンス

安全認証試験項目

• AC耐電圧試験（AC Hi pot）

• DC耐電圧試験（DC Hi pot）

• 絶縁抵抗試験

• 漏れ電流試験

AC耐電圧試験とDC耐電圧試験をしたの長所と短所は何ですか？

• AC耐電圧試験

ほとんどの被測定物にはAC電圧試験では満たされないような小さな浮遊容量が含まれており、その浮遊容量に連続した電流が流れます。

長所

• AC耐電圧は実例に近いので、正負の極性テストが可能です。
• AC電圧試験では、製品自身の浮遊容量を飽和させないため、瞬間のImpulse currentが発生せず、試験後に製品を放電する必要がありません。

短所

• DUTの浮遊容量が大きい場合や容量負荷の場合で生まれた静電容量の電流が実際の漏れ電流よりも大きくなります。
• DUTの浮遊容量によって必要となる静電容量電流に対応するため、測定器の出力電流は直流耐電圧試験の場合よりもはるかに大きくなり、試験機のリスクが高まります。

• DC耐電圧試験

DC耐圧試験を使用すると、対象物にそれ自体の小さな浮遊容量が充填されるため、浮遊容量が充填されると直流電圧試験による静電容量電流はゼロに近くなります。

長所

• DUTは自身の浮遊容量で満たされているため、DC耐圧試験後には実際のリーク電流のみが残り、DC耐圧試験を利用することで対象物の実際のリーク電流を明確に調べることができるのです。
• 測定器の電流容量がAC耐圧試験に必要な電流容量よりも小さいです。

短所

• テスト電圧はゼロから始まりゆっくりと上昇することです。
• DUTの浮遊容量が大きいほど、直流電圧のクリープ時間が長くなり、1回ごとの電圧上昇が小さくなるため、充電電流が大きすぎると誤判定しやすくなります。
• DC耐圧試験後に放電が必要なことです。
• 単一極性の場合はDC耐圧試験できます。

耐圧試験の時間はどのくらいに設定すればよいのでしょうか？

• 電圧設定が低すぎると、十分な電圧で絶縁材を塗布できず、絶縁不良の製品を出荷してしまうことがありますが、電圧設定が高すぎると、測定時間が長くなり、絶縁材に長期的なダメージを与えてしまいます。
• 安全性の標準化に使用される方法は、一般的に使用される時間設定の基準規則でもあります。
• 計算式：試験電圧＝電源電圧×2＋1000V
• 例：充電トランスの電源電圧は240Vなので、テスト電圧は1480Vに設定可能です。

業界で最も一般的な生産ラインのテストは耐圧試験です。

ほとんどの製品は連続加圧試験時間が60秒となっていますが、試験対象物が数グループある場合は、1つのDUTを完成させるのに60秒の数倍の時間がかかり、非常に時間のかかる加圧試験となっています。実際に生産ラインで行われているのは電圧試験の時間を1~2秒に短縮し、試験電圧を10~20%上げることで、時間短縮後の製品の絶縁性能の信頼性を確保する方法が一般的です。

絶縁インピーダンス試験が必要な理由は何ですか。

• 高品質の絶縁材料を用いて絶縁体構造の絶縁特性を検証し、絶縁体構造またはシステムを形成します。絶縁材料は、スイッチが電気ショックから保護され、絶縁構造の信頼性がテストされている必要があります（例：熱抵抗、絶縁特性）。
• 電子製品を組み立てる前に、スイッチ、トランス、抵抗器、コンデンサー、インダクタ、プリント基板、導体、電線などの部品の受入検査項目で、絶縁性能が安全仕様を満たしているかどうかを確認する絶縁抵抗試験を行います。
• 絶縁インピーダンスは安全試験プログラムにおける絶縁品質の重要な指標である。
• VDEやTUVなどの安全規制では製品の絶縁抵抗を最初に試験することが義務付けられています。 その理由は、試験時の圧力によって絶縁体自体が破損しないようにするためです。
• 絶縁インピーダンス試験は、耐電圧試験とほぼ同様に行われ、漏れ電流の大きさによって決定されます、絶縁テストは抵抗値によって判定され、通常はMΩ以上である。主に、被測定物の2つの端点と、その周囲との様々なネットワーク接続の間の等価抵抗を測定することです。

アーク検知により、製品が放電不良か確認できます。

• 高電圧試験の結果、絶縁材料の内部または表面で放電が発生することがあります。これは、絶縁材料が元来の良好な絶縁特性を失っているためで、その結果、一時的または非継続的な放電が発生します。
• 一時的な放電はリーク電流では不良として検出できないため、電圧テスターでは試験電圧やリーク電流の変化率で不良を検出します。
• アーク検出は、幾何学的に不定形な試験であり、アークが検出する電流の時間変化率は、検出器間回路のインピーダンスや分布容量の影響を受けます。

漏れ電流試験

• AC電圧とDC電圧で被試験品に高電圧を印加した際に、被試験品から発生するリーク電流を標準仕様値と比較したものです。
• この静電容量は一定の抵抗による漏れ電流を発生させるだけでなく、交流電圧ではコンデンサ自体がインピーダンス素子となるため、測定された漏れ電流値に電圧計自体の漏れ電流値が含まれてしまうことがあります。 

高電圧・高電流下でトランスに部分放電が発生し、絶縁被覆を貫通する可能性があります。

短時間の耐電圧試験（HiPot試験）ではトランスの実使用寿命を検出することができないため、インパルス試験が必要となります。

MICROTESTは非破壊試験技術を採用しています。

内部コンデンサを設定電圧まで充電し、トランスのコイルに放電します。
この過程で、コンデンサとインダクタは減衰振幅波形を生成し、装置はそのパルス波形を解析します。

標準付属品

Power Cord
フィクスチャー   (F7721)
フットスイッチ (F522010)
高圧テストリード
25Pin-25Pin ケーブル
24Vスイッチパワーサプライ

オプション付属品

PC Link ソフトウェア
ケーブル (RS-232)
フィクスチャー   (F7721-D)