トランス総合試験システム

MICROTESTトランステスターは、インダクタンス、リーケージインダクタンス、直流抵抗、交流抵抗、品質係数、キャパシタンス、巻数比など、トランスの重要なパラメータを総合的に測定し、ピン間短絡を検出します。測定周波数は 200kHz、500kHz、1MHzです。5260シリーズ（20テスト・チャンネル）と5460シリーズ（48テスト・チャンネル）。さまざまなトランスのピン構成に対応するため、カスタマイズされた空気圧フィクスチャーが用意されています。PC接続にも対応しています。

変圧器試験システムは、低電圧電気試験と安全コンプライアンス試験を統合し、2-in-1（低電圧＋高電圧ポット試験）および3-in-1（低電圧＋高電圧ポット試験＋インパルス巻線試験）のソリューションとして提供されます。21チャンネルのスキャニング・テスト・フィクスチャーを使用し、複数のステーションを1つにまとめることができるため、省力化が図れます。

トランス総合試験システム
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トランス試験機 トランス高低圧統合試験システム
トランス試験機5260シリーズ|5265/5266/5267
トランス試験機5260シリーズ
5265/5266/5267
   
  • 測定周波数レンジは10Hz-200kHz/500kHz/1MHzです。
  • 20セットのチャンネルを試験できます。
  • Meterモードを内蔵
  • Meterモードをサポート（4つのパラメータを表示される）
  • 基本測定精度は±0.1%です。
  • オープン/ショット校正機能を提供
  • RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handlerを提供
  • USBでデータを取り込みます。
  • テストデータの保存、テスト画像のスクリーンショットできます。
  • 100mAのDCバイアスの試験を提供 (F5620)
  MICROTEST トランス試験機は、トランス製品の重要な測定パラメータを一台で提供します。測定項目には、インダクタンス、漏れインダクタンス、直流抵抗、交流抵抗、品質係数、キャパシタンス、ターン数比、ピンショートチェックなどが含まれます。測定周波数は200kHz、500kHz、1MHzに対応しており、内蔵のLCRメーター測定モードをサポートします。F5620の空圧式テスト治具を搭載し、20チャネルのテスト通路を提供します。100mAの直流バイアステストが可能で、顧客のニーズに応じたテスト治具のカスタマイズサービスも提供しています。
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トランス試験機5460シリーズ|5465/5466/5467
トランス試験機5460シリーズ
5465/5466/5467
   
  • 測定周波数レンジは10Hz-200kHz/500kHz/1MHzです。
  • 48セットのチャンネルを試験できます。
  • Meterモードを内蔵
  • Meterモードをサポート（4つのパラメータを表示される）
  • 基本測定精度は±0.1%です。
  • オープン/ショット校正機能を提供
  • RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handlerを提供
  • USBでデータを取り込みます。
  • テストデータの保存、テスト画像のスクリーンショットできます。
  • 100mAのDCバイアスの試験を提供
MICROTEST変圧器試験器は、1台で変圧器製品の重要なパラメータを測定することができます。これには、インダクタンス、漏れインダクタンス、直流抵抗、交流抵抗、品質係数、キャパシタンス、巻線比、および端子短絡のチェックなどが含まれます。測定周波数は200kHz、500kHz、1MHzに対応し、内蔵されたLCRメーター測定モードをサポートしています。さらに、F5468型の自動試験治具を搭載し、48のテストチャンネルを提供します。また、100mAの直流偏流テストが可能で、顧客のニーズに応じたカスタマイズサービスも提供しています。
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2-in-1 トランス統合試験システム|Low Voltage+Safety
2-in-1 トランス統合試験システム
Low Voltage+Safety
   
  • 低電圧電気試験
  • 耐電圧試験 / 絶縁試験
  • 20チャンネル対応
  • 試験周波数：200kHz / 500kHz / 1MHz
  • 交流出力電圧：最大5000V
  • 直流出力電圧：最大6000V
  • 絶縁抵抗測定範囲：最大12,000MΩ
  MICROTEST 2-in-1 トランス一体型試験システムは、低電圧電気特性試験と安全規格試験を組み合わせた包括的なソリューションです。20チャンネルの試験機能を備え、低電圧試験（インダクタンス、漏れインダクタンス、抵抗、静電容量など）とAC/DC耐電圧・絶縁試験（最大5000V/6000V）を統合しています。トランス製品に対し、効率的かつ利便性の高い試験を実現します。 トランスのインダクタンス値を測定するには、LCRメーターを使用します。測定周波数は200kHz、500kHz、1MHzから選択可能です。PC接続に対応したソフトウェアもサポートしており、試験データの保存が可能です。  
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3-in-1 トランス統合試験システム|Low Voltage+Safety+Impulse
3-in-1 トランス統合試験システム
Low Voltage+Safety+Impulse
   
  • 低電圧電気試験
  • 耐電圧試験／絶縁抵抗試験
  • インパルス試験（層間短絡検査）
  • 20チャネル対応
  • 試験周波数（200kHz／500kHz／1MHz）
  • 交流電圧出力：最大5,000V
  • 直流電圧出力：最大6,000V
  • 絶縁抵抗：最大12,000MΩ

MICROTEST 3-in-1 トランス統合試験システムについて

MICROTEST 3-in-1 トランス統合試験システムは、低電圧電気特性試験、安全性適合試験およびインパルス巻線試験を一体化した総合的なソリューションです。20チャネルの試験が可能であり、低電圧試験（インダクタンス、漏れインダクタンス、抵抗、静電容量などを含む）と、AC/DC耐電圧絶縁試験（最大5,000V/6,000V）を統合しています。これにより、トランス製品の効率的かつ便利な試験を実現します。インパルス巻線試験は、非破壊の高電圧パルス試験技術を用いており、L/C共振によって発生する減衰波形を解析することで、トランス巻線間または絶縁層間の短絡欠陥を検出します。

トランスのインダクタンス測定について

トランスのインダクタンス値を測定するには、200kHz、500kHz、1MHzの試験周波数が選択可能なLCRメーターをご使用ください。また、PC接続に対応したソフトウェアを利用することで、試験データの保存が可能です。
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