トランス総合試験システム

MICROTESTトランステスターは、インダクタンス、リーケージインダクタンス、直流抵抗、交流抵抗、品質係数、キャパシタンス、巻数比など、トランスの重要なパラメータを総合的に測定し、ピン間短絡を検出します。測定周波数は 200kHz、500kHz、1MHzです。5260シリーズ(20テスト・チャンネル)と5460シリーズ(48テスト・チャンネル)。さまざまなトランスのピン構成に対応するため、カスタマイズされた空気圧フィクスチャーが用意されています。PC接続にも対応しています。

変圧器試験システムは、低電圧電気試験と安全コンプライアンス試験を統合し、2-in-1(低電圧+高電圧ポット試験)および3-in-1(低電圧+高電圧ポット試験+インパルス巻線試験)のソリューションとして提供されます。21チャンネルのスキャニング・テスト・フィクスチャーを使用し、複数のステーションを1つにまとめることができるため、省力化が図れます。

トランス総合試験システム
トランス試験機5260シリーズ|5265/5266/5267
トランス試験機5260シリーズ
5265/5266/5267
  • 測定周波数レンジは10Hz-200kHz/500kHz/1MHzです。
  • 20セットのチャンネルを試験できます。
  • Meterモードを内蔵
  • Meterモードをサポート(4つのパラメータを表示される)
  • 基本測定精度は±0.1%です。
  • オープン/ショット校正機能を提供
  • RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handlerを提供
  • USBでデータを取り込みます。
  • テストデータの保存、テスト画像のスクリーンショットできます。
  • 100mAのDCバイアスの試験を提供 (F5620)
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トランス試験機5460シリーズ|5465/5466/5467
トランス試験機5460シリーズ
5465/5466/5467
  • 測定周波数レンジは10Hz-200kHz/500kHz/1MHzです。
  • 48セットのチャンネルを試験できます。
  • Meterモードを内蔵
  • Meterモードをサポート(4つのパラメータを表示される)
  • 基本測定精度は±0.1%です。
  • オープン/ショット校正機能を提供
  • RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handlerを提供
  • USBでデータを取り込みます。
  • テストデータの保存、テスト画像のスクリーンショットできます。
  • 100mAのDCバイアスの試験を提供
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2-in-1 トランス統合試験システム|Low Voltage+Safety
2-in-1 トランス統合試験システム
Low Voltage+Safety
  • 低電圧電気試験
  • 耐電圧試験 / 絶縁試験
  • 20チャンネル対応
  • 試験周波数:200kHz / 500kHz / 1MHz
  • 交流出力電圧:最大5000V
  • 直流出力電圧:最大6000V
  • 絶縁抵抗測定範囲:最大12,000MΩ
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3-in-1 トランス統合試験システム|Low Voltage+Safety+Impulse
3-in-1 トランス統合試験システム
Low Voltage+Safety+Impulse
  • 低電圧電気試験
  • 耐電圧試験/絶縁抵抗試験
  • インパルス試験(層間短絡検査)
  • 20チャネル対応
  • 試験周波数(200kHz/500kHz/1MHz)
  • 交流電圧出力:最大5,000V
  • 直流電圧出力:最大6,000V
  • 絶縁抵抗:最大12,000MΩ

MICROTEST 3-in-1 トランス統合試験システムについて

トランスのインダクタンス測定について

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