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MICROTEST 8740シリーズ ケーブルハーネステスターは、コスト面を考慮し、非常に低抵抗測定を必要としない製品向けに2線式測定技術を採用しています。テスト機能は、導通試験、開放／短絡試験、AC/DC耐電圧試験、絶縁抵抗試験、および部品試験（抵抗器／コンデンサ／ダイオード）を含みます。テストポイントは128／256／512ポイントから選択可能で、最大AC耐電圧出力は1000V、最大DC耐電圧出力は1500Vです。PC接続用ソフトウェアおよびバーコードスキャンに対応しており、ワイヤーおよびコネクタの自動ライン検査の要件を満たしています。
選択
| 8740 シリーズ | |||
| モデル | 8740FA | 8740NA | 8740N |
| AC 耐電圧テスト | 100V-1000V | 100V-700V | - |
| DC 耐電圧テスト | 50V-1500V | 50V-1000V | 50V-1000V |
| テストピン | 128/256/512 | ||
SPEC
| 安全耐電圧テスト | ||
| AC耐電圧漏れ電流 | 0.01mA -5mA | |
| AC アーク検出 | 1-8 | |
| DC 耐電圧漏れ電流 | 0.1µA-1000µA | |
| DC アーク検出 | 1-8 | |
| DC耐電圧絶縁抵抗 | 1MΩ-1.2GΩ | |
| ハイポット出力精度 | ±5% | |
| ハイポット測定基本精度 | ±5% | |
| 定格出力 | 5Vdc | |
| ハイポット測定時間 | 0.01秒 - 60秒 | |
| ワイヤー仕様 | Maximum allowable capacitance 5μF | |
| 低電圧電気テスト | ||
| 測定モード | 2-Wire Test | |
| 連続性テスト | 100mΩ-52Ω | |
| 断続的連続性テスト | 20Ω-2KΩ | |
|
O/S 断続的開回路/短絡 クイック断続的開回路 |
1kΩ-100kΩ | |
| 開回路/短絡判定 | ● | |
| 片側テスト | ● | |
| コンポーネントテスト | ||
| 抵抗 | 測定範囲 | 100mΩ-2MΩ |
| レベル信号 | 2.4V (Fixed) | |
| 電流信号 | 35mA | |
| 容量 | 測定範囲 | 10pF-3µF |
| レベル信号 | 1.2V (Fixed) | |
| 周波数信号 |
AUTO Gear (Fixed) 48Hz/480Hz/4.8kHz/48kHz |
|
| ダイオード | 測定範囲 | 0-6.8V |
| その他の機能 | ||
| 高機能 | プログラマブル連続テスト/ピンサーチ/自動診断 | |
| テストスキャンモード | オート、マニュアル、外部トリガー | |
| 測定信号 | 低電圧測定信号 | |
| パネル | システム/ラピッド/編集/機能 | |
| インジケーター | 合否判定 HV LED赤緑表示灯 / 画面表示 / 音声 | |
システム
| オペレーション | マニュアル、オート、リモコン | ||
| 内蔵ストレージ | テストファイル数 最大500セット | ||
| 電源 | 固定電圧 | 115/230 Vac ±10% | |
| 周波數 | 60/50Hz | ||
| 電源 | 300VA | ||
| 環境 | 溫度 | 0℃-40℃ | |
| 濕度 | RH≦75% | ||
| ディスプレイ | 320*240 dot-matrix display | ||
|
寸法 (W*H*D) |
128PIN | 256PIN | 512PIN |
| 435x145x406 mm | 435x145x406 mm | 435x190x406 mm | |
| 重量 | 8.44Kg | 9.3Kg | 14Kg |
| インターフェース | RS-232, USB Host, Print, Remote | ||
MICROTEST 2線式テスター 8740シリーズ インサートポート
8740ケーブル・ハーネステスターの測定項目は以下の通りです：
開放／短絡試験（Open/Short）
導通試験（Continuity Test）
部品検査（Components）
AC耐電圧試験（AC Hipot）
DC絶縁／耐電圧試験（DC Insulation/Hipot）
高速導通検査（Quick Conductance）
断続性開放／短絡試験（Intermittence O/S）
高速断続性開放試験（Quick Intermittence Open Circuit）
また、RS-232、USBホスト、プリント、リモートインターフェースに対応しています。
| 導通試験 | ケーブルコネクタの接触抵抗を検出します。 導通抵抗が基準値を超えています。 |
| 開放／短絡試験 |
ワイヤーの接触が正常に機能していることを確認します。 開放（Open）：ワイヤーは接続されているはずだが、接続されていない状態。 短絡（Short）：ワイヤーは接続されていないはずだが、接続されている状態。 |
| 断続的開放／短絡試験 |
ケーブルに断続的な開放／短絡の不良があることを確認します。 |
| 耐電圧試験 |
ケーブルに安定した高電圧を印加し、DUT（被試験装置）の品質を確認します。
絶縁抵抗の値に基づき、試験結果を判定します。絶縁抵抗が不良である場合、高電圧下でDUTに貫通や漏れ電流が発生する可能性があります。
自動車用および軍事用途などの高精度製品では、高電圧印加時にアーク（放電）が一切発生しないことが要求されます。
コネクタ内のループ接点が、絶縁および耐電圧の要件を満たしているかを検査します。
|
このモードで絶縁試験を行うには、グランドピンを設定する必要があります。
非接地ケーブルと指定された接地ケーブルの間で絶縁試験を実施します。
利点は試験速度が速いことですが、欠点として非接地ケーブル同士の絶縁試験は行われません。
このモードはクイック分類に似ています。8本のテストピンがDUT A B C D E F G Hをテストする場合、各ケーブルまたはピンごとにテストを実施するには、DUTが合格かどうかを判断するために7回の連続テストが必要になります。しかしクイックテスト方式を使用すると、最初にA B C DとE F G Hを2つのグループに分けてテストし、2回目はA B E FとC D G Hに分けてテストし、3回目はA C E GとB D F Hに分けてテストを行うことで、DUTが合格かどうかを3回のテストで確認することができます。したがって、もしDUTに128本のピンがある場合、各ケーブルやピンを個別にテストすると127回のテストが必要になりますが、クイックテスト方式であれば8回のテストで済みます。ただし欠点として、不良ピンを特定することができず、またケーブルセグメントが並列でテストされるため、抵抗値が実際の値よりもやや低くなる傾向があります。
これは高電圧絶縁試験における最も基本的な試験方式です。
テストピンAに高電圧を印加し、その他のピンをすべて接地して漏れ電流または絶縁値を観察します。次に、テストピンBに高電圧を印加し、その他のピンを接地して漏れ電流または絶縁値を観察する、という手順を繰り返します。
各ピンに対して順番に高電圧を印加し、他のすべてのピンを接地して漏れ電流または絶縁値を測定することで、すべてのテストピンが高電圧絶縁試験において問題がないことを確認できます。
この方法におけるテスト回数はN−1回となります。
この試験方式はより精度が高く、各ピンごとの絶縁値および漏れ電流を特定することができますが、欠点としてはテスト時間が長くなることです。
標準付属品
| 電源コード | |
| フラットケーブル(AK-8600F2)-8740FA |  |
| フラットケーブル (AK-8600F1)-8740NA/8740N |  |
| アダプターボード(8730-J2) |  |
オプションアクセサリー
| PCリンクソフトウェア | |
| キャリブレーションキット (KB-8740K1) |  |
| マルチプルDUTテスティングエキスパンドボックス (874001) |  |
| アダプターボード (FX-000C16) |  |
| ユニバーサルフィクスチャーボード (FB-8600M1) |  |
| インピーダンス O/S（オープン／ショート）フィクスチャー (FX-000C18) |  |
| ネットワーキングフィクスチャー |
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| フットスイッチ (7600010) | |
| プリンター | |
