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MICROTEST 8761Kシリーズ ケーブルハーネステスターは、精密な4線式測定技術を採用しており、1mΩという低抵抗レベルのハーネス製品に対して包括的な電気特性試験を実施することができます。
試験機能には、導通試験、開放/短絡試験、AC/DC耐電圧試験、絶縁抵抗（IR）試験、および部品試験（抵抗器/コンデンサ/ダイオード）が含まれます。試験ポイントは最大512ポイントまで選択可能であり、最大出力電圧はAC 700V、DC 1000Vに対応しています。PC接続ソフトウェアおよびバーコードスキャナーにも対応しており、ワイヤーおよびコネクタの製造ラインにおける自動試験の要件を満たします。
選択
| 8761K シリーズ | ||
| モデル | 8761NAK | 8761NK |
| AC耐電圧テスト | 100V-700V | - |
| DC耐電圧テスト | 50V-1000V | 50V-1000V |
| テストピン | 512 | |
SPEC
| 安全耐電圧テスト | ||
| AC耐電圧漏れ電流 | 0.01mA -5mA | |
| ACアーク検出 | 1-48 | |
| DC耐電圧漏れ電流 | 0.1µA-1000µA | |
| DCアーク検出 | 1-48 | |
| DC耐電圧絶縁抵抗 | 1MΩ-1.2GΩ | |
| ハイポット出力精度 | ±5% | |
| ハイポット測定基本精度 | ±5% | |
| 定格出力 | 5Vdc | |
| ハイポット測定時間 | 0.01秒 - 60秒 | |
| ワイヤー仕様 | Maximum allowable capacitance 5μF | |
| 低電圧電気テスト | ||
| 測定モード | 4-Wire Test | |
| 連続性テスト | 1mΩ-52Ω | |
| 断続的連続性テスト | 100mΩ-52KΩ | |
|
O/S 断続的開回路/短絡 クイック断続的開回路 |
1kΩ-100kΩ | |
| 低抵抗スキャン | 測定範囲 | 10mΩ-52Ω |
| 電流信号 | 10mA | |
| 開回路/短絡判定 | ● | |
| 片側テスト | ● | |
| コンポーネントテスト | ||
| 抵抗 | 測定範囲 | 50mΩ-20MΩ |
| レベル信号 | 0.5-3V | |
| 電流信号 | 10mA | |
| 容量 | 測定範囲 | 10pF-12µF |
| レベル信号 | 0.3V-1.2V | |
| 周波数信号 |
AUTO Gear (Optional) 48Hz/480Hz/4.8kHz/48kHz |
|
| ダイオード | 測定範囲 | 0-6.8V |
| その他の機能 | ||
| 高機能 | プログラマブル連続テスト/ピンサーチ/自動診断 | |
| テストスキャンモード | オート、マニュアル、外部トリガー | |
| 測定信号 | 低電圧測定信号 | |
| パネル | システム/ラピッド/編集/機能 | |
| インジケーター | 合否判定 HV LED赤緑表示灯 / 画面表示 / 音声 | |
システム
| オペレーション | マニュアル、オート、リモコン | ||
| 内蔵ストレージ | テストファイル数 最大500セット | ||
| 電源 | 固定電圧 | 115/230 Vac ±10% | |
| 周波數 | 60/50Hz | ||
| 消費電力 | 300VA | ||
| 環境 | 溫度 | 15℃-35℃ | |
| 濕度 | RH≦70% | ||
| ディスプレイ | 320*240 dot-matrix display | ||
|
寸法(W*H*D) |
435x270x360 mm | ||
| 重量 | 18kg | ||
| インターフェース | RS-232, USB Host, Print, Remote | ||
4線式テスト
DUTに直接接続して、測定誤差を防止します。
低抵抗のDUTを測定する場合は、4線式テスターの使用を推奨します。
| 導通試験 |
ケーブルコネクタの接触抵抗を検出します。 |
低抵抗スキャン試験 10mΩ～52Ω
| 開放／短絡試験 |
ワイヤーの接触が正しく機能していることを確認します。 開放（Open）：本来接触しているはずのワイヤーが接触していない状態。 短絡（Short）：本来接触してはいけないワイヤー同士が接触している状態。 |
安全試験 — 耐電圧試験（HI POT試験）および絶縁抵抗試験
| 耐電圧試験 |
ケーブルに安定した高電圧を印加し、DUTの品質を確認します。
結果は絶縁抵抗の割合によって判定されます。
自動車や軍事用途の高精度製品では、高電圧下でのアーク（放電）を一切許容できません。
コネクタ内のループ接触が、絶縁および電圧の要求に適合しているか検査します。
ループ間の絶縁抵抗が基準値を下回っています。 耐電圧が基準値を下回っており、漏れ電流が発生する原因となっています。 |
このモードで絶縁試験を実施するには、必ずグランドピンを設定する必要があります。
非接地ケーブルから特定の接地ケーブルへの絶縁試験を行うもので、テスト速度が速いという利点があります。しかし、非接地ケーブル間の絶縁試験は実施されないという欠点があります。
このモードはクイック分類に類似しています。例えば、8本のテストピンがあり、DUTのA、B、C、D、E、F、G、Hをテストする場合、各ケーブルまたはピンを個別にテストすると、合否判定のために7回連続でテストを行う必要があります。
しかし、クイックテスト方式を使用すると、1回目はA、B、C、D と E、F、G、H の2グループに分けてテストし、
2回目はA、B、E、F と C、D、G、H の2グループに分けてテストし、
3回目はA、C、E、G と B、D、F、H の2グループに分けてテストします。
これにより、テストは3回だけでDUTの合否を判定できます。
したがって、もしテストDUTが128ピンある場合、個別にテストすると127回テストが必要ですが、クイックテスト方式を使えば8回のテストで済みます。
ただし、欠点としては、どのピンがエラーかを特定できず、ケーブルセグメントが並列でテストされるため、ケーブルの抵抗値が実際の値より若干低く計測される可能性があります。
これは高電圧絶縁試験における最も基本的な試験方法です。
高電圧をテストピンAに接続し、他のピンを接地して漏れ電流や絶縁抵抗を観察します。
次に、高電圧をテストピンBに接続し、他のピンを接地して同様に漏れ電流や絶縁抵抗を観察します。
このように、各ピンに高電圧を印加し、他のピンを接地して漏れ電流や絶縁抵抗を確認します。
この方法により、すべてのテストピンの高電圧絶縁試験に問題がないことを確認できます。
試験回数はピン数 N に対して N-1 回となります。
この試験方法は非常に正確で、各ピンごとの絶縁および漏れ電流の値を特定できますが、欠点として試験速度が遅いことが挙げられます。
標準付属品
| 電源コード | |
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64P 3KV ケーブル (AK-8600-F3) |
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アダプターボード (FX-000C16) |
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| プローブ | |
オプションアクセサリー
| PCリンクソフトウェア | |
| 遠端控制線 | |
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キャリブレーションキット (KB-8740K1) |
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複数DUT対応拡張ボックス (874001) |
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アダプターボード (FX-000C15) |
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アダプターボード (FX-000C17) |
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| ネットワーキング治具 |  |
| フットスイッチ (7600010) | |